AI요약

기존 2차원 반도체 적층 방식은 층간 결정 방향 불일치로 광학적 특성 제어에 한계가 있었습니다. 본 기술은 화학 기상 증착(CVD) 및 물리적 전사를 활용하여 층간 결정 방향을 정밀하게 제어한 반도체 스택을 제조합니다. 이를 통해 원자층 간 광 흡수 및 발광 양상을 측정하고 동역학적으로 분석하여 천이 밴드갭 특성을 판별합니다. 특히, 결정 방향이 일치하는 스택에서 새로운 직접 천이 밴드갭 특성을 규명하였습니다. 이 분석 방법은 2차원 반도체 적층 구조의 새로운 전자 구조를 인공적으로 형성하고, 층간 회전각에 따른 물질 특성을 정밀하게 제어하여 차세대 발광체, 레이저, 광 검출기 등 다양한 광전자 소자에 폭넓게 응용될 수 있습니다.