광파의 진폭 및 위상 분석 장치

[기술 요약] 기존 광파 펄스 측정 기술은 파장 범위 제약 및 진폭/위상 정보 부족으로 정확한 파형 분석에 한계가 있었습니다. 본 기술은 광파를 기본 펄스와 신호 펄스로 분리한 후, 이들을 이온화 물질에 집속시켜 발생하는 이온화 변화량을 정밀하게 측정합니다. 신호 펄스의 전기장 세기를 기본 펄스 대비 0.1%~20%로 세밀하게 조절하여 이온화 민감도를 최적화하며, 두 펄스 간의 시간 지연에 따른 이온화량 변화를 수학적 분석을 통해 신호 펄스의 진폭과 위상을 정확히 계산합니다. 이온화 물질로 가스, 금속, 나노 구조물 등을 활용하여 기존 비선형 결정 방식의 파장 제약을 해소하고, 광파의 시간 영역 내에서 정밀한 펄스 모양을 제공함으로써 다양한 광학 응용 분야의 측정 정확도를 획기적으로 높일 수 있습니다.

기술 분야

광파 진폭 위상 분석

기관

기초과학연구원

등록번호

1016138830000

키워드

나노 구조물, 광파 분석, 물질 분석, 펨토초 레이저, 파장 제약, 이온화 기술, 펄스 측정, 광통신 기술, 광학 장치, 초정밀 측정, 레이저 진단, 진폭 위상, 아토초 펄스, 비선형 광학, 시간 지연, 전자부품, 통신네트워크, 반도체제조, 광학기기