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기존 레이저 빔 모니터링은 복잡한 광학 장비로 인해 정밀도 저하와 측정 오차 발생 문제가 있었습니다. 본 발명은 미세 회절 요소를 포함하는 광 집속 장치를 통해 입사광의 세기 분포와 파면을 실시간으로 정밀 측정하는 혁신적인 광학 시스템을 제공합니다. 추가 광학 기기 없이도 정확한 분석이 가능하며, 레이저 빔 경로를 방해하지 않아 효율성을 극대화할 수 있습니다. 이를 통해 광학 실험 및 산업 응용 분야에서 레이저 빔의 공간적 특성 분석에 새로운 지평을 열어 드립니다.
| 기술 분야 | 레이저 광학 측정 시스템 |
| 판매 유형 | 자체 판매 |
| 판매 상태 | 판매 중 |
| 기술명 | |
| 레이저 빔의 실시간 모니터링을 위한 광 집속 장치 및 광학 시스템 | |
| 기관명 | |
| 기초과학연구원, 광주과학기술원 | |
| 대표 연구자 | 공동연구자 |
| 김경택 | - |
| 출원번호 | 등록번호 |
| 1020230130240 | 1029224280000 |
| 권리구분 | 출원일 |
| 특허 | 2023.09.27 |
| 중요 키워드 | |
광학 시스템레이저 센서 기술산업용 레이저레이저 빔 모니터링세기 분포 분석광학 기기 간소화 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 2024096194 | 2024.09.19 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |

기존 레이저 빔의 세기 분포 및 파면 측정 방식(샤크-하트만 센서 등)은 빔 스플리터, 텔레스코프, 필터, 집속 렌즈와 같은 추가적인 광학기기를 필요로 합니다.
추가 광학기기는 측정 시스템의 복잡도를 증가시키고, 원치 않는 수차(aberration)를 유발하여 측정 오차를 크게 만드는 문제를 야기합니다.
모달 파면 측정(Modal wavefront sensing)이나 이진 위상 마스크를 사용하는 방법 역시 별도의 빔 스플리터나 집속 렌즈가 필요하여 유사한 문제점을 가집니다.
복잡한 추가 광학기기 없이 단일 장치만으로 레이저 빔의 세기 분포와 파면을 정밀하게 측정할 수 있는 새로운 기술이 필요합니다.
기존에 사용 중인 레이저 빔의 경로를 방해하지 않고 실시간으로 빔의 특성을 모니터링할 수 있는 효율적인 방법이 요구됩니다.
본 발명은 입사된 레이저 빔을 미세 회절 요소(micro-diffraction elements) 배열을 이용하여 2개 이상의 집속광으로 분리하고 집속하는 광 집속 장치에 관한 것입니다.
미세 회절 요소들을 여러 그룹으로 나누고, 각 그룹에 속한 요소들의 밀도 분포를 조절하여 집속광에 임의의 '세기 분포'를 인가합니다.
또한, 각 그룹에 속한 요소들의 위치를 조절하여 집속광에 임의의 '파면'을 인가합니다.
이렇게 생성된 여러 집속광의 모양과 세기를 촬상 장치로 분석하여, 원래 입사된 레이저 빔의 공간적 세기 분포와 파면을 정밀하게 측정합니다.
광학 시스템은 광원(LS), 광 집속 장치(PSV), 촬상 장치(IMD)로 구성됩니다.
광원으로부터 나온 입사광(IL)은 광 집속 장치(PSV)에 도달합니다. 광 집속 장치는 미세 회절 거울 또는 미세 핀홀과 같은 다수의 미세 회절 요소들을 포함합니다.
미세 회절 요소들은 G개의 그룹으로 나뉘며, 각 그룹(g)은 입사광을 회절시켜 집속면(FPL) 위의 특정 지점(g번째 집속점)에 집속광을 형성합니다.
각 미세 회절 요소의 좌표는 수학식에 기반하여 위상 오차가 최소가 되도록 결정되며, 이를 통해 원하는 파면을 정밀하게 인가할 수 있습니다.
미세 회절 요소의 밀도 분포를 조절하여 각 집속광의 세기를 제어합니다.
촬상 장치(IMD)는 집속면에 형성된 G개의 집속광들을 촬영하고 전기 신호로 변환하여, 이를 분석함으로써 입사광의 특성을 측정합니다.
비용 및 복잡성 감소: 추가 광학 기기(텔레스코프, 집속 렌즈 등)가 필요 없어 시스템을 단순하고 컴팩트하게 구성할 수 있습니다.
높은 측정 정확도: 추가 광학계에서 발생하는 불필요한 수차를 원천적으로 제거하여 측정 오차를 최소화합니다.
비파괴 실시간 모니터링: 회절 효과를 이용해 입사광의 일부분만 측정에 사용하므로, 회절되지 않은 나머지 주빔은 다른 목적으로 계속 사용할 수 있습니다.
필터 불필요: 입사광의 일부만 사용하므로 레이저 빔의 세기를 자연스럽게 줄이는 효과가 있어, 고출력 레이저에도 감쇠 필터 없이 적용할 수 있습니다.
직관적인 정보 획득: 서로 반대 부호의 파면 함수를 인가한 집속광 쌍을 비교하여, 입사광의 파면 정보를 별도의 복원 과정 없이 즉시 인식할 수 있습니다.
본 실험은 제안된 광학 시스템이 실제로 25개의 분리된 집속광을 형성할 수 있는지, 그리고 각 집속광에 의도한 파면을 인가하여 입사광의 수차를 효과적으로 측정할 수 있는지를 시뮬레이션을 통해 검증하는 것을 목적으로 합니다.
G=25인 경우, 즉 25개의 집속광을 생성하는 광학 시스템을 가정하여 시뮬레이션을 수행했습니다.
광 집속 장치 위에서의 빔 크기는 25mm, 장치와 집속면 사이의 거리는 500mm, 빛의 중심 파장은 800nm로 설정했습니다.
25개 그룹의 미세 회절 요소(원형 미세 핀홀)에 각각 다른 파면(제르니케 다항식)을 인가하도록 설계했습니다.
프레즈넬-호이겐스(Fresnel-Huygens) 수식을 이용하여 집속면에 생성되는 집속점들의 형태를 계산했습니다.
입사광에 수차가 없는 경우와 수직 비점수차(Vertical astigmatism)가 있는 경우 두 가지에 대해 결과를 비교 분석했습니다.
시뮬레이션에 사용된 25개 그룹별 미세 회절 요소의 파라미터는 아래 표와 같습니다.
표 1. 실험 결과 데이터
그룹 번호(g) | 핀홀 개수 | 핀홀 직경(µm) | X 좌표(mm) | Y 좌표(mm) | 파면기저함수(h) | 진폭(λ) |
|---|---|---|---|---|---|---|
1 | 30200 | 10 | -0.4 | 0 | 4 | -2.5 |
2 | 15100 | 10 | -0.2 | 0 | 4 | -1.5 |
3 | 15100 | 10 | 0 | 0 | 4 | 0 |
4 | 15100 | 10 | 0.2 | 0 | 4 | 1.5 |
5 | 30200 | 10 | 0.4 | 0 | 4 | 2.5 |
6 | 15100 | 10 | -0.2 | 0.4 | 3 | 2.5 |
7 | 15100 | 10 | -0.2 | 0.2 | 3 | -2.5 |
8 | 15100 | 10 | -0.4 | 0.4 | 5 | 2.5 |
9 | 15100 | 10 | -0.4 | 0.2 | 5 | -2.5 |
10 | 15100 | 10 | 0 | 0.4 | 6 | 2.5 |
11 | 15100 | 10 | 0 | 0.2 | 6 | -2.5 |
12 | 15100 | 10 | 0.2 | 0.4 | 9 | 2.5 |
13 | 15100 | 10 | 0.2 | 0.2 | 9 | -2.5 |
14 | 15100 | 10 | 0.4 | 0.4 | 12 | 2.5 |
15 | 15100 | 10 | 0.4 | 0.2 | 12 | -2.5 |
16 | 15100 | 10 | -0.4 | -0.2 | 7 | 2.5 |
17 | 15100 | 10 | -0.4 | -0.4 | 7 | -2.5 |
18 | 15100 | 10 | -0.2 | -0.2 | 8 | 2.5 |
19 | 15100 | 10 | -0.2 | -0.4 | 8 | -2.5 |
20 | 15100 | 10 | 0.2 | -0.2 | 11 | 2.5 |
21 | 15100 | 10 | 0.2 | -0.4 | 11 | -2.5 |
22 | 15100 | 10 | 0 | -0.2 | 13 | 2.5 |
23 | 15100 | 10 | 0 | -0.4 | 13 | -2.5 |
24 | 15100 | 10 | 0.4 | -0.2 | 10 | 2.5 |
25 | 15100 | 10 | 0.4 | -0.4 | 10 | -2.5 |
출처: 특허 본문
입사광에 수차가 없는 경우, 25개의 빔은 각각 인가된 파면에 따라 고유한 모양의 집속점을 형성했습니다. 반면, 입사광에 양(+)의 수직 비점수차가 있는 경우, 음(-)의 비점수차를 인가하도록 설계된 8번 그룹의 집속점은 수차가 상쇄되어 더 선명하게 집속되었고, 양(+)의 비점수차를 인가한 9번 그룹의 집속점은 왜곡이 심화되었습니다. 이 결과는 여러 집속점의 모양을 직관적으로 비교하는 것만으로도 입사광의 수차 종류와 정도를 즉시 파악할 수 있음을 보여줍니다.
반도체 및 디스플레이 제조 공정에서의 레이저 품질 실시간 모니터링
레이저 가공, 용접, 프린팅 등 산업용 고출력 레이저 시스템의 빔 진단
자율주행 차량용 라이다(LiDAR) 센서의 송신 빔 패턴 측정 및 품질 관리
기초 과학 연구 및 정밀 광학 실험에서 빔 특성 분석 장비로 활용
의료용 레이저(시력 교정, 피부 시술 등)의 빔 프로파일 측정 및 제어
기술적 측면: 추가 부품 없이 단일 장치로 레이저 빔의 핵심 특성(세기, 파면)을 측정할 수 있어, 측정 시스템의 소형화 및 경량화를 실현할 수 있습니다.
경제적 측면: 고가의 추가 광학 부품 및 복잡한 정렬 과정을 제거하여 제조 및 유지보수 비용을 획기적으로 절감할 수 있습니다.
산업적 측면: 다양한 산업 현장에서 레이저 품질을 실시간으로 관리함으로써 생산 수율과 제품 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있으며, 관련 시장에서 강력한 기술 경쟁력을 확보할 수 있습니다.
글로벌 레이저 센서 시장은 2021년 6억 5,220만 달러로 평가되었으며, 예측 기간 동안 연평균 10.09%의 성장률을 달성할 것으로 예상됩니다. (출처: Emergen Research)
특히 본 기술과 연관성이 높은 자율주행 차량용 카메라 광축 정렬 장비 시장은 2020년 약 2,000억 원 규모에서 자율주행 기술이 본격화되는 2025년에는 약 4,800억 원으로 급격히 성장할 것으로 전망됩니다. (출처: 전북대학교)
자동차 및 산업 분야 수요 증가: 자율주행, 스마트 팩토리 등에서 정밀한 비접촉 측정 및 품질 관리를 위한 레이저 센서의 필요성이 증대되고 있습니다.
기술 발전 및 소형화: 센서 기술의 소형화 및 고도화 추세는 OEM(주문자 상표 부착 생산) 시장의 수요를 견인하고 있습니다.
사물 인터넷(IoT)의 확산: 다양한 기기에 레이저 센서가 통합되면서 새로운 응용 분야가 지속적으로 창출되고 있습니다.
정부 주도 R&D 투자 확대: 각국 정부의 첨단 기술 육성 정책 및 R&D 지원 증가는 레이저 센서 기술 혁신을 가속화하는 주요 요인입니다. (출처: Emergen Research)

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[기술 요약] 기존 레이저 빔 모니터링은 복잡한 광학 장비로 인해 정밀도 저하와 측정 오차 발생 문제가 있었습니다. 본 발명은 미세 회절 요소를 포함하는 광 집속 장치를 통해 입사광의 세기 분포와 파면을 실시간으로 정밀 측정하는 혁신적인 광학 시스템을 제공합니다. 추가 광학 기기 없이도 정확한 분석이 가능하며, 레이저 빔 경로를 방해하지 않아 효율성을 극대화할 수 있습니다. 이를 통해 광학 실험 및 산업 응용 분야에서 레이저 빔의 공간적 특성 분석에 새로운 지평을 열어 드립니다.
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