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기존 플래시 메모리 및 DRAM은 고집적화에 따른 규모 한계와 전하 저장 방식의 근본적인 전력 소모 문제에 직면하고 있습니다. 본 기술은 전도체 층 사이에 금속산화물 부도체 층과 금속 나노입자 층을 포함하는 비휘발성 저항 변화 메모리(RRAM) 소자 및 그 제조 방법을 제안합니다. 특히, 랭뮤어-블로젯, 레이어-바이-레이어, 또는 스핀코팅 조립을 통해 형성된 1층에서 10층 사이의 금속 나노입자 층이 핵심입니다. 이 독창적인 구조는 기존 MIM 구조 대비 셋(set) 및 리셋(reset) 전류를 1~3 차수 이상 감소시켜 메모리 소자의 전력 소모를 획기적으로 줄입니다. 또한 우수한 내구성, 데이터 보유율 및 다중 셀(MLC) 동작 기능을 제공하여, 고집적, 저전력 차세대 비휘발성 메모리 시장에 혁신적인 솔루션을 제공합니다.
| 기술 분야 |
| 비휘발성 메모리 소자 |
| 판매 유형 | 자체 판매 |
| 판매 상태 | 판매 중 |
| 기술명 | |
| 비휘발성 저항 변화 메모리 소자 및 이의 제조 방법 | |
| 기관명 | |
| 서울대학교산학협력단, 기초과학연구원 | |
| 대표 연구자 | 공동연구자 |
| 현택환 | |
| 출원번호 | 등록번호 |
| 1020140023701 | 1018022930000 |
| 권리구분 | 출원일 |
| 특허 | 2014.02.27 |
| 중요 키워드 | |
데이터 저장 기술엣지 컴퓨팅차세대 비휘발성 메모리RRAM반도체 메모리인공지능 반도체 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 2015001904 | 2015.02.27 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |
기존의 플래시 메모리나 DRAM과 같은 저장 기술은 실리콘 기반으로, 가까운 미래에 규모상의 한계에 도달할 것으로 예상됩니다.
대안으로 주목받는 비휘발성 저항변화 메모리(RRAM)는 고집적도와 빠른 속도를 가지지만, 저항이 변하는 스위칭 메커니즘이 명확하게 규명되지 않은 실정입니다.
기존에 제안된 RRAM 기술들은 나노입자가 절연층 내부에 분산되어 있거나 전극과 직접 접촉하는 등, 본 발명에서 제안하는 균일한 층상 구조와는 차이가 있어 성능 개선에 한계가 있었습니다.
저전력 구동이 필수적인 모바일 기기 및 IoT 장치를 위해, RRAM 소자의 구동 전류를 획기적으로 줄일 수 있는 새로운 구조가 필요합니다.
메모리 소자의 소비 전력을 예측하고 제어할 수 있는 기술을 확보하여, 다양한 응용 분야에 맞는 맞춤형 설계가 가능해야 합니다.
본 발명의 핵심 원리는 두 개의 금속산화물 부도체 층 사이에 금속 나노입자 층을 삽입하는 것입니다.
이 금속 나노입자 층은 전하 트랩(trap) 역할을 하여, 메모리 소자의 구동에 필요한 전류를 현저히 감소시킵니다.
특히, 금속 나노입자 층의 수를 조절하여 구동 전류를 제어할 수 있습니다. 층이 하나씩 증가할수록 구동 전류는 10배(1 차수)씩 감소하여 소비 전력을 예측 가능하게 줄일 수 있습니다.
기판 위에 제1 전극을 형성합니다.
제1 전극 위에 제1 금속산화물로 이루어진 부도체 층을 형성합니다.
제1 금속산화물 부도체 층 위에 '랭뮤어-블로젯 조립' 등의 방법을 이용해 금속 나노입자 층을 형성합니다.
금속 나노입자 층 위에 제2 금속산화물로 이루어진 부도체 층을 형성합니다.
마지막으로 제2 금속산화물 부도체 층 위에 제2 전극을 형성하여 소자 제작을 완료합니다.

저전력 소모: 기존 RRAM 소자 대비 구동 전류를 획기적으로 줄여 전력 소모가 매우 적습니다.
제어 가능한 소비 전력: 금속 나노입자 층의 수를 1개씩 증가시킬 때마다 셋/리셋 전류가 1 차수(order of magnitude)만큼 감소하여, 원하는 수준으로 소비 전력을 정밀하게 조절할 수 있습니다.
높은 신뢰성: 100회 이상의 반복된 스위칭 동작에도 성능 저하가 거의 없으며, 1,000초 이상 데이터가 안정적으로 유지되는 우수한 보유율을 보입니다.
고집적화 가능: 하나의 셀에 여러 단계의 저항값을 저장하는 다중 셀(MLC) 동작이 가능하여 메모리 저장 용량을 크게 늘릴 수 있습니다.
본 실험의 목적은 제안된 금속-부도체-나노입자-부도체-금속(MINIM) 구조가 기존 금속-부도체-금속(MIM) 구조에 비해 전기적 특성, 특히 구동 전류 및 전력 소비 측면에서 얼마나 우수한지를 정량적으로 검증하는 것입니다.
비교를 위해 세 종류의 메모리 소자 구조(MIM, MISIM, MINIM)를 제작하였습니다.
MIM 구조는 일반적인 금속-부도체-금속 구조이며, MINIM 구조는 부도체 층 사이에 금 나노입자 1층 또는 3층을 삽입하여 제작하였습니다.
각 소자에 전압을 인가하면서 전류-전압(I-V) 곡선을 측정하여 셋(set) 및 리셋(reset) 전류, 저항 상태 변화, 신뢰성 등을 평가하였습니다.
실험 결과, 금 나노입자 층을 포함하는 MINIM 구조는 기존 MIM 구조에 비해 구동 전류가 크게 감소하는 것을 확인했습니다. 특히, 금 나노입자 층이 1개에서 3개로 늘어남에 따라 전류 수준이 수 차수(order of magnitude) 만큼 추가로 감소하여, 제안된 구조가 저전력 구동에 매우 효과적임을 입증했습니다.
모바일 기기 및 가전제품용 고성능 저전력 비휘발성 메모리
CMOS 공정 호환성을 활용한 마이크로컨트롤러(MCU) 및 시스템 온 칩(SoC)용 내장 메모리
인공지능(AI) 가속기 및 뉴로모픽 컴퓨팅 시스템의 시냅스 소자
혹독한 환경(고온, 방사선)에서 작동해야 하는 항공우주 및 의료 기기용 메모리
다양한 전자기기의 전력 소비를 획기적으로 절감하여 배터리 사용 시간을 연장하고 에너지 효율을 극대화합니다.
다중 셀(MLC) 동작을 통해 메모리 저장 밀도를 높여 소형화 및 고용량화에 기여합니다.
기존 DRAM이나 플래시 메모리의 기술적 한계를 뛰어넘어 차세대 메모리 시장을 선도할 수 있는 핵심 기술 경쟁력을 확보합니다.
글로벌 ReRAM 시장 규모는 2024년 8억 3,352만 달러로 평가되었으며, 예측 기간 동안 연평균 성장률(CAGR) 17.20%로 성장하여 2032년에는 29억 6,715만 달러에 도달할 것으로 예상됩니다. (출처)
차세대 비휘발성 메모리 시장은 삼성전자, SK하이닉스와 같은 기존 메모리 강자와 Crossbar와 같은 ReRAM 기술 전문 기업들이 기술 개발을 주도하며 경쟁하고 있습니다. (출처)
기업 유형 | 주요 기업 |
|---|---|
기존 메모리 강자 | 삼성전자, SK하이닉스, Toshiba, Sandisk, Micron |
신규 ReRAM 전문 기업 | Crossbar |
AI 및 엣지 컴퓨팅 확산: 인공지능, 자율주행차, IoT 기기 등에서 대용량 데이터를 빠르게 처리하기 위한 고성능, 저전력 메모리 수요가 급증하고 있습니다.
기존 메모리의 기술적 한계: ReRAM은 기존 플래시 메모리보다 빠른 속도, 높은 내구성, 낮은 전력 소비를 제공하며 유망한 대안으로 부상하고 있습니다.
CMOS 공정 호환성: 기존 반도체 제조 공정에 쉽게 통합할 수 있어 비용 효율적으로 내장 메모리를 개발할 수 있는 장점이 있습니다.
뉴로모픽 컴퓨팅의 성장: 인간의 뇌를 모방하는 뉴로모픽 칩에서 ReRAM이 시냅스 역할을 수행할 수 있어 3세대 AI 반도체 기술로 주목받고 있습니다.

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[기술 요약] 기존 플래시 메모리 및 DRAM은 고집적화에 따른 규모 한계와 전하 저장 방식의 근본적인 전력 소모 문제에 직면하고 있습니다. 본 기술은 전도체 층 사이에 금속산화물 부도체 층과 금속 나노입자 층을 포함하는 비휘발성 저항 변화 메모리(RRAM) 소자 및 그 제조 방법을 제안합니다. 특히, 랭뮤어-블로젯, 레이어-바이-레이어, 또는 스핀코팅 조립을 통해 형성된 1층에서 10층 사이의 금속 나노입자 층이 핵심입니다. 이 독창적인 구조는 기존 MIM 구조 대비 셋(set) 및 리셋(reset) 전류를 1~3 차수 이상 감소시켜 메모리 소자의 전력 소모를 획기적으로 줄입니다. 또한 우수한 내구성, 데이터 보유율 및 다중 셀(MLC) 동작 기능을 제공하여, 고집적, 저전력 차세대 비휘발성 메모리 시장에 혁신적인 솔루션을 제공합니다.
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