기술이전 상세 정보를 불러오는 중입니다...
기존 엑스선 회절 이미징 기술은 약한 광원 사용 시 노이즈, 디텍터 성능 제한, 장시간 노출로 인한 샘플 열적 변형 및 이미지 왜곡 문제가 있었습니다. 본 기술은 엑스선 광의 위상을 변화시켜 광의 진행 방향을 광축 외각으로 분산시키는 위상 조절부를 도입합니다. 복수개의 경사진 위상 조절기를 통해 회절 무늬를 넓은 영역에 퍼뜨리고, 위상 복구 알고리즘으로 이미지를 복원하여 공간 분해능을 획기적으로 높입니다. 이로써 광원의 세기를 증가시키지 않고도 선명하고 정밀한 고해상도 현미경 이미지를 얻을 수 있으며, 약한 광원 사용 시 발생할 수 있는 샘플 손상 및 이미지 왜곡을 방지합니다.
기술 분야 | 엑스선 회절 현미경 |
판매 유형 | 자체 판매 |
판매 상태 | 판매 중 |
기술명 | |
위상 조절을 통한 엑스선 회절 현미경 장치 및 엑스선 회절 방법 | |
기관명 | |
기초과학연구원 광주과학기술원 | |
대표 연구자 | 공동연구자 |
이경환 | - |
출원번호 | 등록번호 |
1020150012703 | 1016138840000 |
권리구분 | 출원일 |
특허 | 2015.01.27 |
중요 키워드 | |
열적 변형 방지이미징 기술광원부검출부샘플 이미지비파괴 검사공간 분해능 향상위상 조절현미경 기술결맞는 엑스선엑스선 회절 현미경XCDI질화 실리콘복원부푸리에 변환광학기기이미징기술물질분석 |
기술이전 상담신청
연구자 미팅
기술이전 유형결정
계약서 작성 및 검토
계약 및 기술료 입금
보유 기술 로딩 중...
인기 게시물 로딩 중...