이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법

[특허 요약] 본 발명은 이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법을 공개한다. 이 방법은 (a) 빔 분리 장치가 펄스를 인가받아 기본 펄스 및 측정 대상 신호 펄스로 분리하고, 빔 세기 조절 장치가 상기 분리된 신호 펄스를 인가받아 상기 분리된 신호펄스의 전기장 세기를 상기 기본 펄스보다 소정의 양만큼 약하게 조절하는 단계; (b) 빔 시간 지연 조절 장치가 상기 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와의 시간 지연을 조절하고, 빔 결합 장치가 상기 시간 지연이 조절된 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와 결합시키는 단계; (c) 빔 집속 장치가 상기 결합되는 기본 펄스와 신호 펄스를 인가받아 상기 이온화 물질로 집속하여 이온화시켜 전자 및 이온을 생성하고, 이온화량 측정 장치가 상기 생성된 이온의 양을 측정하여 상기 시간 지연에 따른 이온화 변화량을 산출하는 단계; 및 (d) 신호 펄스 분석부가 상기 산출된 이온화 변화량을 이용하여 상기 신호 펄스의 진폭과 위상을 계산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

특허 등록번호

101613882B

특허 출원번호

1020150161981

출원일

2015.11.18

등록일

2016.04.20

국가

대한민국

출원인

기초과학연구원, 광주과학기술원

발명자

김경택

중요 키워드

ionization, pulse, amount, phase, signal pulse