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[특허 요약] 본 발명은 이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법을 공개한다. 이 방법은 (a) 빔 분리 장치가 펄스를 인가받아 기본 펄스 및 측정 대상 신호 펄스로 분리하고, 빔 세기 조절 장치가 상기 분리된 신호 펄스를 인가받아 상기 분리된 신호펄스의 전기장 세기를 상기 기본 펄스보다 소정의 양만큼 약하게 조절하는 단계; (b) 빔 시간 지연 조절 장치가 상기 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와의 시간 지연을 조절하고, 빔 결합 장치가 상기 시간 지연이 조절된 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와 결합시키는 단계; (c) 빔 집속 장치가 상기 결합되는 기본 펄스와 신호 펄스를 인가받아 상기 이온화 물질로 집속하여 이온화시켜 전자 및 이온을 생성하고, 이온화량 측정 장치가 상기 생성된 이온의 양을 측정하여 상기 시간 지연에 따른 이온화 변화량을 산출하는 단계; 및 (d) 신호 펄스 분석부가 상기 산출된 이온화 변화량을 이용하여 상기 신호 펄스의 진폭과 위상을 계산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
| 특허 상태 | 등록 |
| 출원인 | 기초과학연구원, 광주과학기술원 |
| 발명자 | 김경택 |
| 출원번호 | 1020150161981 |
| 출원일 | 2015.11.18 |
| 등록번호 | 101613882B |
| 등록일 | 2016.04.20 |
| 중요 키워드 | ionizationpulseamount |
본 발명은 이온화를 이용한 광파의 진폭 및 위상 측정 방법을 공개한다. 이 방법은 (a) 빔 분리 장치가 펄스를 인가받아 기본 펄스 및 측정 대상 신호 펄스로 분리하고, 빔 세기 조절 장치가 상기 분리된 신호 펄스를 인가받아 상기 분리된 신호펄스의 전기장 세기를 상기 기본 펄스보다 소정의 양만큼 약하게 조절하는 단계; (b) 빔 시간 지연 조절 장치가 상기 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와의 시간 지연을 조절하고, 빔 결합 장치가 상기 시간 지연이 조절된 기본 펄스를 인가받아 상기 전기장 세기가 조절된 신호 펄스와 결합시키는 단계; (c) 빔 집속 장치가 상기 결합되는 기본 펄스와 신호 펄스를 인가받아 상기 이온화 물질로 집속하여 이온화시켜 전자 및 이온을 생성하고, 이온화량 측정 장치가 상기 생성된 이온의 양을 측정하여 상기 시간 지연에 따른 이온화 변화량을 산출하는 단계; 및 (d) 신호 펄스 분석부가 상기 산출된 이온화 변화량을 이용하여 상기 신호 펄스의 진폭과 위상을 계산하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.







| 출원번호 | 출원일 |
| 3005426 | 2016.11.18 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |
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| 출원번호 | 출원일 |
| 201680067793 | 2016.11.18 |
| 종류코드 | |
| B | |
| 외부 링크 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 1020150171666 | 2015.12.03 |
| 종류코드 | |
| B1 | |
| 외부 링크 | |

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