[특허 요약] 본 발명의 일 관점에 따르면, 시료가 장착되는 시료 장착부를 포함하는 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템이 제공된다. 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템에 있어서, 상기 시료 장착부는, 시료 장착 공간을 포함하는 제 1 프레임 및 개구된 일 단부가 상기 제 1 프레임과 결합되면서 상기 시료 장착 공간을 내부에 수용하는 제 2 프레임을 포함한다. 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템에 있어서, 상기 제 1 프레임은, 외부와의 통전을 위한 전기 단자가 형성되는 시료 지지부; 상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 단열재로 이루어지고 지지선이 결합될 수 있는 복수의 제 1 지지봉; 상기 시료 지지부의 일면 상에 상기 일 면으로부터 멀어지는 방향으로 연장되며, 고 열전도체로 이루어지고 시료를 거치할 수 있는 복수의 제 2 지지봉; 상기 제 1 지지봉 사이에 지지선에 의해 현수되는 온도계 및 히터; 및 상기 전기 단자로부터 상기 온도계 및 히터에 각각 연결되는 전기공급선을 포함한다.

등록번호

101992478B

출원번호

1020190049063

출원인

서울대학교산학협력단, 기초과학연구원

키워드

low, sample, probe system, heat transport, temperature