구조 조명과 위상 검출을 이용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법

[기술 요약] 기존 단분자 위치 측정 기술은 낮은 광자 수에서의 정확도 한계, 픽셀 노이즈 문제, 그리고 좁은 측정 면적으로 인해 연구 및 적용에 어려움이 있었습니다. 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위해 구조 조명과 위상 검출을 활용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법을 제시합니다. 레이저 광을 주기적 패턴의 구조 조명으로 성형하고, 위상을 변화시키며 단분자에서 방출되는 광 신호를 정밀하게 분석하여 중심 위치를 파악합니다. 이 기술은 낮은 광자 수에서도 단분자 위치 측정의 정확도를 획기적으로 개선하며, 이미지 해상도를 크게 향상시킵니다. 또한, 대면적에 임의로 분포된 다수의 단분자 위치를 효율적으로 측정할 수 있어, 기존 초고해상도 현미경 대비 뛰어난 공간 분해능과 나노미터급 해상도를 제공합니다. 본 기술은 생명 과학, 신소재 연구 등 다양한 분야에서 미세 입자 분석의 새로운 지평을 열 것으로 기대됩니다.

기술 분야

초고분해능 광학 이미징

기관

기초과학연구원

등록번호

1019349560000

키워드

비침습 이미징, 형광 이미징, 위상 검출 방법, 세포 구조 분석, 구조 조명 기술, 단분자 중심위치 측정, 저광자 측정, 이미징 정확도 향상, 나노 해상도 측정, 생체 분자 관찰, 광학 이미징, 레이저 광학, 고성능 현미경 개발, 마이크로스코피 기술, 초고해상 현미경, 조명기술, 광학기기, 이미징기술, 센서기술, 생체분석, 나노구조, 나노응용, 바이오산업, 나노바이오 융합의료기술