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[특허 요약] 본 발명은 대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 레퍼런스가 없는 샘플의 자기상관(autocorrelation) 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 얻는 단계; 상기 샘플에 레퍼런스를 추가하여 홀로그램 이미지를 얻는 단계; 2개의 홀로그램을 퓨리에 변환하여 이미지를 비교하는 단계; 2개의 이미지 차를 통하여 숨겨진 샘플 이미지를 복원하는 단계;를 포함한다.
| 특허 상태 | 거절 |
| 출원인 | 기초과학연구원, 광주과학기술원 |
| 발명자 | 이경환, 김형택, 남창희 |
| 출원번호 | 1020140122290 |
| 출원일 | 2014.09.15 |
| 등록번호 | 20160031912 |
| 등록일 | 2016.03.23 |
| 중요 키워드 | sampleimagerayhologramobtaining |
본 발명은 대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 레퍼런스가 없는 샘플의 자기상관(autocorrelation) 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 얻는 단계; 상기 샘플에 레퍼런스를 추가하여 홀로그램 이미지를 얻는 단계; 2개의 홀로그램을 퓨리에 변환하여 이미지를 비교하는 단계; 2개의 이미지 차를 통하여 숨겨진 샘플 이미지를 복원하는 단계;를 포함한다.
| 출원번호 | 출원일 |
| 2015009502 | 2015.09.09 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |
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