[특허 요약] 본 발명은 현미경 시스템 및 그 동작방법에 관한 것으로서, 일실시예에 따른 현미경 시스템은 샘플에 조사되는 제1 송신 빔에 대응하여 샘플에 대한 제1 수신 빔을 수신하고, 제1 수신 빔과 제1 송신 빔에 기초하는 참조 빔을 이용하여 샘플에 대한 수차 보정정보를 생성하는 제1 모드로 동작하는 제1 동작부 및 샘플에 조사되는 제2 송신 빔에 대응하여 샘플에 대한 제2 수신 빔을 수신하고, 수차 보정 맵을 공간 광 변조기에 띄움으로써 수차 보정정보 및 제2 수신 빔에 기초하여 수차가 보정된 빔을 생성하며, 제2 수신 빔에 기초하여 수차가 보정되지 않은 빔을 생성하고, 수차가 보정된 빔과 수차가 보정되지 않은 빔에 기초하여 샘플에서 단일분자 형광 이미지를 획득하고 이 원시 데이터를 분서하여 초고해상도 형광 이미지를 생성하는 제2 모드로 동작하는 제2 동작부를 포함한다.

등록번호

20230062343

출원번호

1020220044555

출원인

고려대학교 산학협력단, 기초과학연구원

키워드

aberration, sample, reference numeral, smlm, aberration correction