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[특허 요약] 전자현미경 이미지 분석 방법이 제공된다. 상기 전자현미경 이미지 분석 방법은, 전자현미경 이미지를 획득하는 단계, 상기 전자현미경 이미지를 처리하여 이진화 이미지를 형성하는 단계, 및 상기 이진화 이미지를 분석하는 단계를 포함한다.
| 특허 상태 | 등록 |
| 출원인 | 서울대학교산학협력단, 기초과학연구원 |
| 발명자 | 박정원, 김주덕 |
| 출원번호 | 1020190025383 |
| 출원일 | 2019.03.05 |
| 등록번호 | 20200106763 |
| 등록일 | 2020.09.15 |
| 중요 키워드 | electron microscopenanoparticlesmicroscope image |
전자현미경 이미지 분석 방법이 제공된다. 상기 전자현미경 이미지 분석 방법은, 전자현미경 이미지를 획득하는 단계, 상기 전자현미경 이미지를 처리하여 이진화 이미지를 형성하는 단계, 및 상기 이진화 이미지를 분석하는 단계를 포함한다.
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