랜덤 간섭계 및 랜덤 간섭분석 방법

[특허 요약] 본 발명의 랜덤 간섭계는 입사 광을 방출하는 광원; 상기 입사 광이 그의 내부 벽에서 반사되어 생성된 광 모드들의 간섭으로부터 스페클 필드를 생성하는 캐비티; 상기 스페클 필드로부터 방출되는 광 강도를 검출하는 검출부; 및 상기 광 강도로부터 상기 스페클 필드의 변동을 분석하는 데이터 분석부를 포함하고,. 상기 데이터 분석부는 상기 광 강도의 변동을 분석한다.

특허 등록번호

20200074036

특허 출원번호

1020190166255

출원일

2019.12.13

등록일

2020.06.24

국가

대한민국

출원인

기초과학연구원, 울산과학기술원

발명자

프랑수아 암블라흐, 기욤 카시아니

중요 키워드

cavity, light, random, speckle field, interferometer