저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템 및 이를 포함하는 측정장치

[특허 요약] 본 발명의 일 관점에 따르면, 시료가 장착되는 시료 장착부를 포함하는 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템이 제공된다. 상기 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템에 있어서, 상기 시료 장착부는, 시료 장착 공간을 포함하는 제 1 프레임 및 개구된 일 단부가 상기 제 1 프레임과 결합되면서 상기 시료 장착 공간을 내부에 수용하는 제 2 프레임을 포함한다.

특허 등록번호

2020218690A

특허 출원번호

2019013669

출원일

2019.10.17

등록일

2020.10.29

국가

세계_지적_재산권_기구

출원인

서울대학교산학협력단, 기초과학연구원

발명자

박제근, 김하림, 매튜 존 콕

중요 키워드

sample, probe system, heat transport, low temperature, precision