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[특허 요약] Provided is a probe system for low-temperature high-precision heat transport measurement, the probe system including a sample loader where a sample is loaded. In the probe system for low-temperature high-precision heat transport measurement, the sample loader includes a first frame including a sample loading space, and a second frame including an open end coupled to the first frame to accommodate the sample loading space.
| 특허 상태 | 등록 |
| 출원인 | 서울대학교산학협력단, 기초과학연구원 |
| 발명자 | Je Geun PARK, Ha Leem KIM, Matthew John COAK |
| 출원번호 | 201917606279 |
| 출원일 | 2019.10.17 |
| 등록번호 | 12235166B |
| 등록일 | 2025.02.25 |
| 중요 키워드 | sampleprobe system |
Provided is a probe system for low-temperature high-precision heat transport measurement, the probe system including a sample loader where a sample is loaded. In the probe system for low-temperature high-precision heat transport measurement, the sample loader includes a first frame including a sample loading space, and a second frame including an open end coupled to the first frame to accommodate the sample loading space.







| 출원번호 | 출원일 |
| 201980095785 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| B | |
| 외부 링크 | |
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| 출원번호 | 출원일 |
| 2021563730 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| B2 | |
| 외부 링크 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 2019013669 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 1020190049063 | 2019.04.26 |
| 종류코드 | |
| B1 | |
| 외부 링크 | |