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[특허 요약] 根据本发明的一方面，提供一种包括安装有试料的试料安装部的低温超精密热传输测量用探头系统。在所述低温超精密热传输测量用探头系统中，所述试料安装部包括：第一框架，其包括试料安装空间；以及第二框架，其设有开口的一端部与所述第一框架结合的同时其内部可容纳所述试料安装空间。
| 특허 상태 | 등록 |
| 출원인 | 서울대학교산학협력단, 기초과학연구원 |
| 발명자 | 朴济根, 金河临, 马修·约翰·科克 |
| 출원번호 | 201980095785 |
| 출원일 | 2019.10.17 |
| 등록번호 | 113767269 |
| 등록일 | 2024.07.12 |
| 중요 키워드 | sampleheat transferprobe system |
根据本发明的一方面，提供一种包括安装有试料的试料安装部的低温超精密热传输测量用探头系统。在所述低温超精密热传输测量用探头系统中，所述试料安装部包括：第一框架，其包括试料安装空间；以及第二框架，其设有开口的一端部与所述第一框架结合的同时其内部可容纳所述试料安装空间。
| 출원번호 | 출원일 |
| 2021563730 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| B2 | |
| 외부 링크 | |
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| 출원번호 | 출원일 |
| 201917606279 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| B2 | |
| 외부 링크 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 2019013669 | 2019.10.17 |
| 종류코드 | |
| A1 | |
| 외부 링크 | |
| 출원번호 | 출원일 |
| 1020190049063 | 2019.04.26 |
| 종류코드 | |
| B1 | |
| 외부 링크 | |