대면적 샘플용 x선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법

[특허 요약] 본 발명은 대면적 샘플용 X선 홀로그래피 현미경 측정장치 및 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명은 레퍼런스가 없는 샘플의 자기상관(autocorrelation) 신호 획득용 홀로그램 회절 이미지를 얻는 단계; 상기 샘플에 레퍼런스를 추가하여 홀로그램 이미지를 얻는 단계; 2개의 홀로그램을 퓨리에 변환하여 이미지를 비교하는 단계; 2개의 이미지 차를 통하여 숨겨진 샘플 이미지를 복원하는 단계;를 포함한다.

특허 등록번호

2016043471A

특허 출원번호

2015009502

출원일

2015.09.09

등록일

2016.03.24

국가

세계_지적_재산권_기구

출원인

기초과학연구원, 광주과학기술원

발명자

이경환, 김형택, 남창희

중요 키워드

sample, image, ray, hologram, light source