[특허 요약] 본 발명은 3차원 기준점 검출 방법 및 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 방법은 3차원 영상 데이터에 볼륨 렌더링을 수행하여 2차원 투영 이미지를 생성하는 단계, 학습된 신경망 모델을 이용하여, 2차원 투영 이미지에서 기준점에 대응하는 특징점을 검출하는 단계, 3차원 영상 데이터에서, 특징점과 2차원 좌표값이 동일한 복셀들의 복셀값들을 추출하는 단계, 특징점을 지나고 2차원 투영 이미지에 수직인 축 방향에 대해 추출된 복셀값들의 그래디언트값들을 구하는 단계, 그리고 복셀값들과 그래디언트값들이 미리 정해진 조건을 만족하는 축 상의 위치를 기준점의 위치로 검출하는 단계를 포함한다.

등록번호

20210066074

출원번호

1020190154562

출원인

기초과학연구원, 연세대학교 산학협력단

키워드

reference point, dimensional, projection image, image data, point detection