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빛의 궤도 각운동량 검출 방법 및 장치
[특허 요약] 본 발명은 빛의 궤도 각운동량 검출 방법 및 장치에 관한 것으로, 본 발명의 실시예에 따른 빛의 궤도 각운동량 검출 방법은 2 개의 입력 레이저 빔 중 어느 하나가 검출 대상 소용돌이 빔(Vortex beam)인 경우에, 다른 하나인 상대 빔의 위상 전하(Topological charge, TC)를 변경하면서, 비선형 광학 검출 기법을 이용하여, 상대 빔의 위상 전하별 출력 신호를 얻는 단계(S100), 및 출력 신호 중 가장 높은 신호 값을 가지는 상대 빔의 위상 전하를 기반으로, 검출 대상 소용돌이 빔의 궤도 각운동량(Orbital angular momentum, OAM)을 측정하는 단계(S200)를 포함한다.
| 특허 상태 | 공개 |
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단, 기초과학연구원 |
| 발명자 | - |
| 출원번호 | 1020250180210 |
| 출원일 | 2025.11.25 |
| 등록번호 | 10-2026-0096716 |
| 등록일 | 2025.11.25 |
본 발명은 빛의 궤도 각운동량 검출 방법 및 장치에 관한 것으로, 본 발명의 실시예에 따른 빛의 궤도 각운동량 검출 방법은 2 개의 입력 레이저 빔 중 어느 하나가 검출 대상 소용돌이 빔(Vortex beam)인 경우에, 다른 하나인 상대 빔의 위상 전하(Topological charge, TC)를 변경하면서, 비선형 광학 검출 기법을 이용하여, 상대 빔의 위상 전하별 출력 신호를 얻는 단계(S100), 및 출력 신호 중 가장 높은 신호 값을 가지는 상대 빔의 위상 전하를 기반으로, 검출 대상 소용돌이 빔의 궤도 각운동량(Orbital angular momentum, OAM)을 측정하는 단계(S200)를 포함한다.